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9月1日，據財聞海外資訊，漢努爾半導體宣布，其搭載AI的MLCC六面全外觀檢測設備實現每分鐘13000件的檢測速度，不良品檢出準確率達98%，較原有約95%提升3個百分點。該設備可高速輸送拍攝約0.6mm×0.3mm超小型MLCC，識別微裂紋、崩缺、異物及電極異常等缺陷。設備搭載自研AI檢測平臺HawAle（哈瓦伊）與AI分析引擎AlohaNet（阿羅哈網），傳統圖像處理與AI協同檢測，并采用端側AI技術本地處理數據，采集數據可持續訓練模型提升精度。

目前該性能指標正接受第三方機構實測評估，后續將依據評測結果面向海內外MLCC制造企業開展設備測評與市場推廣。公司計劃年內把檢測速度進一步提升至每分鐘15000件，擴大HawAle平臺落地范圍，并將AI檢測技術陸續導入MLCC綜合測量儀、壓痕檢測設備、超聲無損檢測設備。

關鍵詞 韓國 半導體 測量儀 漢努爾 mlcc ai設